拉伸应变对Bi2223/Ag带材I_c不均匀性的影响  

Effect of tensile strain on I_c inhomogeneity of Bi2223/Ag tapes

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作  者:张正臣[1] 周义刚[1] 曹永青[1] 李晓航[1] 肖立业[1] 

机构地区:[1]中国科学院电工研究所

出  处:《低温与超导》2007年第6期501-504,共4页Cryogenics and Superconductivity

摘  要:研究了Bi2223/Ag带材的Ic和n值沿带长方向的不均匀性在拉伸应变下的变化。结果表明,Ic和n值的大小并不是逐点一一对应的;当应变小于不可逆拉伸应变时,Ic随应变增加缓慢下降,n值随应变增加缓慢下降并有小幅震荡;Ic的均匀度随应变增加基本上没有变化,n值的均匀度随应变增加变好并有小幅振荡,而且变化范围很小。Effects of tensile strain on inhomogeneity of critical currents and n values along longitudinal direction of Bi2223/Ag tapes were investigated. The experimental result shows that critical currents and n values are not consistent with each other point by point. And when tensile strain is blow the irreversible limit, critical currents decrease slowly, while n values decrease slowly at statistical view as tensile strain increases. Meanwhile, the homogeneity of critical currents shows no variation and that of n values shows improvement with small variation as tensile strain increase, and the variation range is small.

关 键 词:BI2223/AG带材 临界电流 n值 不均匀性 拉伸应变 

分 类 号:TN818.06[电子电信—信息与通信工程] TM26[一般工业技术—材料科学与工程]

 

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