超高频晶体管共晶装片中eb结失效的分析  

作　　者：吴振江 

机构地区：[1]江阴长江电子实业总公司,江阴214431

出　　处：《电子产品可靠性与环境试验》1997年第5期31-32,共2页Electronic Product Reliability and Environmental Testing

关 键 词：超高频晶体管 共晶装片 eb结 失效 

分 类 号：TN323.206[电子电信—物理电子学]