多元红外探测器综合性能参数自动测试系统  

Automatic Testing System for Comprehensive Parameters of Multi-node Infrared Detector

作　　者：魏振忠[1] 樊巧云[1] 张广军[1] 郭云芝[2] 孙维国[2] 

机构地区：[1]北京航空航天大学精密光机电一体化技术教育部重点实验室,北京100083 [2]中国空空导弹研究院,洛阳471009

出　　处：《红外技术》2008年第1期1-5,共5页Infrared Technology

基　　金：2007年度教育部新世纪优秀人才支持计划资助项目

摘　　要：针对多元红外探测器过程质量控制和批量检测需求,研究开发了一套多元红外探测器综合性能参数自动测试系统,系统整体噪声水平<2 mV,通道增益一致性优于1.60%,实现了动态阻抗、探测率、电压/电流响应率、Ⅰ-Ⅴ曲线、启动时间、续冷时间、元间均匀性等参数的全自动测试。针对某型号探测器的测量实验表明,该测试系统具有较好的测量精度和稳定性。To realize process quality control and batch test for multipixel infrared detector, an automatic comprehensive parameters test system is developed, which reaches the level that the system noise is less than 2 mV and the channel gain is better than 1.60%. The system can automatically test the parameters such as dynamic resistant, test ratio, voltage/current responsibility, start time, cooling time, I-V curve, pixel-to-pixel uniformity and so on. The experiment on some real infrared detector shows that the system has good measurement accuracy and repeatability.

关 键 词：红外探测器 自动测试 徼弱信号 

分 类 号：TN215[电子电信—物理电子学]