一起SF_6封闭式组合电器故障的原因分析  被引量:30

Analysis of Reason for a GIS Fault

在线阅读下载全文

作  者:葛猛[1] 陶安培 

机构地区:[1]吉林供电公司试验所,吉林132001

出  处:《高压电器》2008年第1期95-96,共2页High Voltage Apparatus

摘  要:介绍了一起由于盘式绝缘子脏污引起的SF6封闭式组合电器(GIS)故障。通过详实的试验,对GIS脏污缺陷的早期发现与预防提出了建议。This article introduced a breakdown of SF6 GIS, which is due to dirty disc-insulator. Through the detailed experiment, the author analysised the origin of breakdown, and adviced about early discovery of dirty breakdown, followed by the scene experience and the equipment characteristic.

关 键 词:封闭式组合电器 绝缘子 接地故障 气室 

分 类 号:TM59[电气工程—电器]

 

参考文献:

正在载入数据...

 

二级参考文献:

正在载入数据...

 

耦合文献:

正在载入数据...

 

引证文献:

正在载入数据...

 

二级引证文献:

正在载入数据...

 

同被引文献:

正在载入数据...

 

相关期刊文献:

正在载入数据...

相关的主题
相关的作者对象
相关的机构对象