基于FPGA的光电抗干扰电路设计  

作　　者：余江[1] 

机构地区：[1]解放军西安通信学院

出　　处：《今日电子》2008年第2期89-91,共3页Electronic Products

摘　　要：红外密集度光电立靶测试系统是一种新型的用于测量低伸弹道武器射击密集度的测试系统，既测试无须进行任何特殊处理的金属弹丸，又可测试非金属弹丸，更有反映灵敏、精度高而稳定、操作简单、容易维护等优点，已被许多靶场投入使用。

关 键 词：光电立靶 电路设计 FPGA 抗干扰 射击密集度 测试系统 低伸弹道 非金属 

分 类 号：TN402[电子电信—微电子学与固体电子学] TJ06[兵器科学与技术—兵器发射理论与技术]