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机构地区:[1]中山大学光电材料与技术国家重点实验室,显示材料与技术广东省重点实验室,广州510275
出 处:《电子器件》2008年第1期25-28,共4页Chinese Journal of Electron Devices
基 金:广东省科技计划资助(2006A10801001);霍英东教育基金资助项目(101007)
摘 要:为研究空穴阻挡层对有机发光二极管寿命的影响,制备了含有空穴阻挡层的典型双层结构有机发光二极管,其中八羟基喹啉铝(Alq3)为发光层和电子传输层,BCP为空穴阻挡层。器件的寿命随着发光层的厚度减小而降低,实验结果表明积累在发光层的空穴和激子可能是影响器件寿命的主要原因之一。To investigate the effect of hole blocking layer on lifetime of organic light-emitting diodes (OLEDs), we fabricated typical Alq3 based bilayer OLEDs containing a hole blocking layer of bathocuproine (BCP), which divides the Alq3 layer into recombination/emission layer and electron transport layer. We observed that the lifetime of the devices increased with the thickness of recombination/emission layer. The result suggests that the accumulation of holes and excitons in the recombination/emission layer may influence reversely the lifetime of the devices.
分 类 号:TN312.8[电子电信—物理电子学]
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