Chipidea的USB高速物理层IP获得特许半导体90nm和65nm客户就绪技术认证  

出　　处：《单片机与嵌入式系统应用》2008年第1期71-71,共1页Microcontrollers & Embedded Systems

摘　　要：MIPS科技公司模拟业务部Chipidea宣布，其USB高速物理层（PHY）IP已获得特许半导体（Chartered Semiconductor Manufacturing Ltd）65nm和90nm工艺技术认证。Chipidea的USB2．0OTG物理层内核符合USB2．0标准并获得了独立认证权威USB实施者论坛（USB-IF）的认证，是USB高速物理层IP最丰富产品组合的一部分，经过了硅验证并获得了特许半导体客户就绪代工厂解决方案0．18μm、0．13μm、90nm及65nm认证。Chipidea的USB IP有助于缩短用户设计的USB和USB OTG Supplement进入便携式计算设备的时间，如手持设备、移动电话、海量存储设备及数码相机，这些设备的市场正在迅速发展。

关 键 词：USB2.0标准 技术认证 物理层 半导体 SEMICONDUCTOR 客户 90nm工艺 计算设备 

分 类 号：TP333.35[自动化与计算机技术—计算机系统结构] F752[自动化与计算机技术—计算机科学与技术]