一种低成本的测试码自动产生算法  

A LOW-COST ALGORITHM FOR TEST GENERATION

作　　者：石茵[1] 魏道政[1] 

机构地区：[1]中国科学院计算技术研究所CAD开放实验室

出　　处：《计算机学报》1997年第8期759-768,共10页Chinese Journal of Computers

基　　金：国家自然科学基金

摘　　要：为了降低超大规模集成电路（ＶＬＳＩ）测试中的测试产生和测试应用代价，本文提出了一种低成本的测试码自动产生算法──临界路径跟踪测试产生（ＣＰＴＴＧ）．本文主要从算法的搜索策略、扇出源的临界性确定及测试产生过程中的加速技术三个方面，介绍ＣＰＴＴＧ的主要思想和关键技术．文中给出了ＣＰＴＴＧ对国际通用的１０个组合电路范例的实验结果，表明了ＣＰＴＴＧ可以在较短时间内获得具有较高故障覆盖率的较小测试集．To decrease the costs of test generation and test application in VLSItesting, a low cost algorithm for automatic test generation-critical path tracingtest generation(CPTTG) is presented in this paper. The basic ideas and key techniques of CPTTG are described from three aspects, search strategies of the algorithm, criticality determination of fanout stems and accelerated techniques in testgeneration. The experimental results of CPTTG for ISCAS'85 10 benchmark circuits are offered in this paper, which demonstrates that CPTTG can obtain less testpatterns with high fault coverage in shorter time.

关 键 词：测试产生 故障模型 VLSI 测试码 算法 

分 类 号：TN470.7[电子电信—微电子学与固体电子学]