R＆S将亮相2008年国际集成电路研讨会暨展览会  

出　　处：《移动通信》2008年第3期157-157,共1页Mobile Communications

摘　　要：在2008年3月10日至11日在上海世贸商城举办的2008年国际集成电路研讨会暨展览会上，罗德与施瓦茨公司将展示其全面领先的射频和微波测试解决方案。包括手机集成电路的各种测试解决方案：R＆S CRTU、音频分析仪R＆S UPV、针对射频部分的测试的无线通信测试仪R＆S CMU200。R＆S公司还将展示认证型接收机R＆S ESCI、ESU以及抗扰度测试方面的R＆S IMS测试设备。在通用测量方面，R＆S公司有各种信号源和频谱仪可供选择。

关 键 词：集成电路 展览会 国际 测试解决方案 罗德与施瓦茨公司 无线通信测试仪 R&S公司 CMU200 

分 类 号：TN402[电子电信—微电子学与固体电子学] TN929.533