K故障可诊断条件及其可测性设计  

作　　者：彭敏放[1,2] 陈艳[1,2] 周任军[1,2] 杨叔孔 

机构地区：[1]长沙电力学院,410007 [2]湖南大学

出　　处：《计算技术与自动化》1997年第1期65-68,共4页Computing Technology and Automation

摘　　要：本文将图的矩阵引入电路的可测性分析，给出了电路的K故障可诊断拓朴条件，使对电路可测性的分析简单化、系统化，并将其应用于网络的可测性设计。

关 键 词：K故障 可测性 模拟电路 设计 计算机应用 

分 类 号：TN431.107[电子电信—微电子学与固体电子学]