面阵测向性能相对于阵元位置误差敏感性研究  

Sensitivity analysis of DF performance of planar array with respect to array uncertainties

作　　者：刘洪盛[1] 肖先赐[1] 

机构地区：[1]电子科技大学电子工程学院

出　　处：《电波科学学报》2008年第1期90-94,共5页Chinese Journal of Radio Science

基　　金：国防重点实验室基金项目(51435050101DZ02)

摘　　要：阵元位置误差引起阵列流形变化,进而导致测向误差。面阵阵列流形是CN中的曲面,研究了该曲面与信号子空间的关系,提出了由面阵阵元位置误差推算测向误差的方法,定义了一个衡量面阵测向性能相对于阵元位置误差敏感性的一个指数。仿真结果说明该方法和指数在一定条件下有效。Array sensor position errors （ASPE） remodel nominal array manifold, then induce error of DOA estimation. Manifold of planar array is a surface embedded in C^N, the relationship between the surface and signal subspace was analyzed, a new method to determine error of DOA estimation from ASPE was presented, an index to evaluate sensitivity of DF performance of planar array with respect to ASPE was proposed. Results of simulation experiments verify the effectiveness of proposed method and index.

关 键 词：面阵 位置误差 DOA 敏感性 锥角 

分 类 号：TN011[电子电信—物理电子学]