硅条探测器前端ASIC芯片测试系统电路设计  

A testing system circuit for front-end ASIC of silicon strip detector

作　　者：千奕[1] 苏弘[1] 徐四九[1] 李小刚[1] 

机构地区：[1]中国科学院近代物理研究所

出　　处：《核技术》2008年第3期229-232,共4页Nuclear Techniques

基　　金：国家自然科学基金资助(10675153)项目

摘　　要：介绍一种前端读出专用集成电路(ASIC,Application-Specific Integrated Circuit)芯片性能测试系统的电路设计与实现。该ASIC芯片可用于构成硅微条探测器、硅条、Si(Li)和CsI探测器的前端读出电子学系统。本文详细描述了测试系统的构成,主要电路设计,系统应用以及部分测试结果,并简要介绍了被测ASIC芯片的电路结构。A testing system circuit we designed for front-end ASIC of Silicon strip detector is reported in this paper. This ASIC chip can also be used as the front-end electronics for silicon micro-strip, Si（Li） and CsI detectors. The circuit configuration of the test system, circuit design and testing results are described in details. Also, the architecture of the ASIC is introduced briefly.

关 键 词：硅条探测器 前端ASIC 测试系统 硬件设计 

分 类 号：TL8[核科学技术—核技术及应用]