外径千分尺两测量面平行度检定  

Verification on the Paraller Degree of the Outside Diameter Micrometer

作　　者：吕小洁[1] 

机构地区：[1]贵州省计量测试院,贵州贵阳550003

出　　处：《计量与测试技术》2008年第3期10-11,共2页Metrology & Measurement Technique

摘　　要：外径千分尺两测量面的平行度符合要求与否对其所给出测量结果正确性的影响不容忽视,本文讨论了以平行平晶和量块两种方法对外径千分尺两测量面的平行度进行检定的方法并加以简单分析,从而得出在实际检定工作中如何恰当运用两种方法的结论。

关 键 词：外径千分尺 两测量面平行度 平行平晶 量块 检定 

分 类 号：TG814[金属学及工艺—公差测量技术]