半导体致冷器件的失效机理与故障检测方法研究  

作　　者：李锦冬[1] 

机构地区：[1]第二炮兵装备研究院第三研究所

出　　处：《湖北航天科技》2008年第1期35-39,共5页

摘　　要：介绍了半导体致冷器的性能特征，分析了其故障的产生和失效机理，并以某发射装置调温系统为例，讨论了采用红外热成像技术实现半导体致冷器故障检测的方法。

关 键 词：半导体致冷器 故障 检测 红外热成像 

分 类 号：TN949.12[电子电信—信号与信息处理] U463.6[电子电信—信息与通信工程]