新型纳米电子学——石墨片集成电路的测试  

出　　处：《军民两用技术与产品》2008年第2期22-22,共1页Dual Use Technologies & Products

摘　　要：单层石墨片具有良好的电学性质，例如，石墨片集成电路的主要组块是5nm～10nm宽的石墨纳米条，调整宽度和边缘形态可分别获得金属和半导体的性质。世界各国的科学家正致力于研究纳米条的构型，尝试创造不同的全石墨电子纳米器件和电路元件。最新的实验发现了单层石墨片的新现象，为发展以碳为基础的纳米电子学提供了可能性。美国华盛顿大学的研究者测试了多个裁剪自石墨片纳米条的集成电路基本元件：无反射电流分流器、120°旋转无反射电流转接器、不同宽度纳米条间的无反射电流连接器和高阻元件。

关 键 词：纳米电子学 集成电路 石墨片 测试 电学性质 电路元件 反射电流 华盛顿大学 

分 类 号：TN402[电子电信—微电子学与固体电子学] TB383[一般工业技术—材料科学与工程]