碳纳米管性能测量新方法  

出　　处：《光学精密机械》2007年第3期9-9,共1页Optics and Fine Mechanics

摘　　要：日前，IBM公司的科学家宣布他们对碳管内的电荷分布进行了测量，并发现其直径小于2纳米，仅相当于人类头发直径的5万分之一。这项新颖的技术借助电子和声子交互作用为碳纳米管电学性能提供了一个详细的解释，与今天常规的硅晶体管相比，这一材料为更小、更快并且能耗更低的计算机芯片提供了基础。

关 键 词：碳纳米管 性能测量 IBM公司 计算机芯片 电荷分布 电学性能 交互作用 硅晶体管 

分 类 号：TB383[一般工业技术—材料科学与工程] F471.266[经济管理—产业经济]