TekExpress一致性自动测试平台为满足串行数据自动测试需求提供优秀的架构  

机构地区：[1]泰克公司

出　　处：《电子测量技术》2008年第3期190-190,共1页Electronic Measurement Technology

摘　　要：串行数据速率的稳步提升，要求严格的标准和更先进的一致性测试解决方案。这需要性能大幅度提高的测试和测量仪器来支持发射机、接收机和信道等方面的测试。为满足这种需求，不仅要求广泛的产品系列，还要求完善的、可扩展的、能够满足当前和未来需求的一致性自动测试软件平台。泰克仪器及其最新推出的TekExpress^TM一致性自动测试平台可以单键自动进行高速串行数据标准测试，充分满足了这一需求。这也是为进行SATA测试专门设计的。

关 键 词：自动测试平台 测试需求 串行数据 一致性 架构 测试解决方案 测试软件平台 测量仪器 

分 类 号：TP368.1[自动化与计算机技术—计算机系统结构] U284.362[自动化与计算机技术—计算机科学与技术]