集成电路用于测量事故剂量的探索  

Study on measuring accidental dose using IC chips

作　　者：贾育新[1] 马卫江[2] 唐强[2] 麦维基[1] 刘小莲[1] 刘彦兵[1] 吴自香[1] 杨宇华[1] 

机构地区：[1]广东省职业病防治院,广东广州510300 [2]中山大学物理科学与工程技术学院,广州510275

出　　处：《中国职业医学》2008年第2期142-142,145,共2页China Occupational Medicine

基　　金：国家自然科学基金资助(10505033);广东省医学科学技术研究基金(A2006052)

摘　　要：目的研究集成电路的光释光特性,期望用于辐射事故的应急剂量计。方法将集成电路制成粉末样品,测量其光释光信号对辐射剂量的响应和信号的稳定性。结果集成电路粉末样品在蓝光和红外光激发下都能发射光释光信号,对辐射剂量成线性关系。结论初步认为集成电路粉末可以用于辐射剂量计。

关 键 词：光释光 事故剂量 集成电路 

分 类 号：R144[医药卫生—公共卫生与预防医学]