用全速电流测试方法检测PIC12F509微处理器  

Using at Speed Current Testing Method to Test PIC12F509 Microprocessor

作　　者：邓杭剑[1] 邝继顺[1] 蔡烁[1] 

机构地区：[1]湖南大学计算机与通信学院,长沙410082

出　　处：《微处理机》2008年第1期5-8,共4页Microprocessors

基　　金：国家自然科学基金资助(60173042)

摘　　要：全速电流测试是一种新的电路测试方法。这里将一种指令级的全速电流测试方法应用到RISC指令集流水线结构的PIC12F509微处理器测试实验中。实验结果表明使用指令级的全速电流测试方法对PIC12F509微处理器进行测试是可行的。At speed current testing is a latest method for circuit test, it is rarely used in the experiment for testing for the moment. This paper has used a method called instruction level at speed current test in the experiments for testing PIC12FS09 microprocessor which employs a RISC architecture and pipelining. The experimental results show that the instruction level method is fit for testing PIC12FS09 microprocessor.

关 键 词：全速电流测试 PIC12F509微处理器 指令级 流水线 

分 类 号：TN707[电子电信—电路与系统]