用改进的全波方法分析圆对称层状贴片结构  

Analysis of the Circularlly Symmetric Layered Structure by Using an Improved Full-Wave Method

作　　者：蒋国忠[1] 章文勋[1] 

机构地区：[1]东南大学毫米波国家重点实验室,南京210096

出　　处：《微波学报》1997年第4期281-290,共10页Journal of Microwaves

基　　金：国家自然科学基金

摘　　要：本文将矢量Hankel变换与谱域导抗法相结合，改进了一种分析圆对称层状结构的全波方法，使理论建模和数值计算都得以简化。该方法应用于微带圆贴片谐振特性的计算，其结果与文献所载的实验数据相符；将该方法应用于费涅尔区板（FZP）透镜焦区场的计算，论证了双层透镜能增强聚焦作用的设计原理。Based on vector Hankel transformation and spectral domain immittance matrixapproach, an improved full-wave method is developed for efficiently modelling and numericalcalculating, the two specific cases are analyzed:the numerical results of circular micorstrip patchare in good agreement with experimental data;secondly,the focal field distribution of Fresnel ZonePlate (FZP) 1ens shows 2～3 dB gain enhancement of FZP lens focal region due to application ofthe double layers.

关 键 词：谱域导抗法 圆形微带贴片 费涅尔天线 天线 

分 类 号：TN822.01[电子电信—信息与通信工程]