基于BDD和布尔差分的组合电路测试生成方法  

CombinationalcircuittestgenerationmethodbasedonBDDandBooleandifference

作　　者：欧阳一鸣[1] 牟屹[1] 梁华国[1] 

机构地区：[1]合肥工业大学计算机与信息学院,合肥230009

出　　处：《计算机应用研究》2008年第5期1450-1452,1523,共4页Application Research of Computers

基　　金：国家自然科学基金重大研究计划资助项目(90407008);国家自然科学基金重点资助项目(60633060);安徽省自然科学基金资助项目(050420103)

摘　　要：引入布尔差分的思想,对被测电路函数的BDD结构进行判断生成测试向量。本方案较传统的以图进行搜索的ATPG方法有效地减少了时空开销,并将布尔差分的理论方法应用于实际。实验表明,本方案可以有效地进行测试生成。The method came from the notion of Boolean difference, it generated tests for CUT by judging the structure of circuit function＇ s BDD. In comparison with traditional ATPG using diagram searching, the method could efficiently reduce time and space cost in operation and brought the academic Boolean difference into practice. The results of experiments show that the method is an effective way for test generation.

关 键 词：二元决策图 布尔差分 自动测试向量生成 

分 类 号：TP331[自动化与计算机技术—计算机系统结构]