微波暗室静区性能的测量方法  

Measurement of the Quiet Zone Performance of Microwave Anechoic Chamber

作　　者：王志宇[1] 乔闪[1] 袁宇[1] 皇甫江涛[1] 冉立新[1] 周慧忠 

机构地区：[1]浙江大学信息与电子工程系,杭州310027 [2]浙江省信息产品质量检测中心,杭州310013

出　　处：《微波学报》2007年第B08期69-72,共4页Journal of Microwaves

摘　　要：本文给出了使用自由空间驻波法进行微波暗室静区性能测量的基本原理,并以实际测量为例,给出了使用对数周期天线、矢量网络分析仪对一矩形微波暗室静区性能进行测量的详细步骤及检验方法。本文对微波暗室的建设、使用和维护具有一定的指导意义,对使用微波暗室进行天线和微波后向散射测量也有一定的参考意义。In this paper, the principle of the measurement for the quiet zone performance of a microwave anechoic chamber is presented. Detailed measurement procedures to an actual rectangular chamber using a log-periodic antenna and vector network analyzer are simultaneously given. The method and steps provided here are valuable for building, using and maintaining a microwave anechoic chamber, and also useful for the reference to the measurement of antennas and microwave backward scattering conducted in the chamber.

关 键 词：微波暗室 静区 测量 

分 类 号：TM930[电气工程—电力电子与电力传动]