γ能谱法测量氙样品的最小可探测活度规律研究  

MDA Trend Research on Radioactive Xenon measurement by HPGe γ Spectrometer

作　　者：王世联[1] 王军[1] 樊元庆[1] 李奇[1] 张新军[1] 贾怀茂[1] 

机构地区：[1]禁核试北京国家数据中心和北京放射性核素实验室,北京10085

出　　处：《核电子学与探测技术》2008年第2期404-409,共6页Nuclear Electronics & Detection Technology

摘　　要：全面禁止核试验条约核查体系中,通过监测大气中放射性氙浓度来识别事件的性质是非常有效的核查手段之一。本文介绍了HPGeγ能谱法测量放射性氙的原理和过程,在分析本底数据的基础上,探讨了氙同位素最小可探测活度MDA的变化规律。Monitoring radioactive Xenon concentration in air is effective way to screen nuclear event in CTBT verification regime. This article introduces the theory and process of radioactive Xenon measurement by HPGe gamma spectrometer and researches MDA trend of Xenon isotope base on background data.

关 键 词：放射性氙 HPGeγ能谱法 效率刻度 MDA 

分 类 号：TL816.4[核科学技术—核技术及应用]