检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:殷苏民[1] 程昌[1] 冯爱新[1] 赵荣春[1] 刘素霞[1]
出 处:《中国激光》2008年第6期947-951,共5页Chinese Journal of Lasers
基 金:国家自然科学基金(50405035);江苏省自然科学基金青年科技创新人才学术带头人项目(BK2007512)资助课题
摘 要:建立了膜-基界面结合强度的红外激光准静态划痕的检测新方法。采用红外激光对膜层样品进行连续划痕,通过摄像机,获得膜-基界面的划痕图像,经过Matlab预处理后准备调用;同时采用红外热像仪实时在线检测样品表面的受热状态。信号检测系统检测薄膜表面温度和划痕图像等参数,返回信号处理系统进行分析和处理。从而实现对膜-基界面结合强度的检测。A new detecting method of infrared laser scratching is presented to estimate the bond strength of filmsubstrate interface. The infrared laser constinuously works on the sample film. The scratching images of the filmsubstrate interface are obtained by vidicon, and are prepared to be used after Matlab disposal. At the same time, the temperature apparatus system detects the temperature of sample surface in real time. The temperature of sample surface and the scratching image are detected by signal detection system in order to estimate the bond strength of film-substrate interface.
分 类 号:TN249[电子电信—物理电子学]
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在链接到云南高校图书馆文献保障联盟下载...
云南高校图书馆联盟文献共享服务平台 版权所有©
您的IP:216.73.216.145