小儿热惊厥对中枢神经系统的损伤  

作　　者：翟淑萍[1] 余红辉[1] 卜简玲[2] 赵建琴[3] 

机构地区：[1]上海瑞金医院集团闵行医院儿科 [2]上海瑞金医院集团闵行医院儿科脑电图室 [3]上海交通大学医学院附属瑞金医院儿科

出　　处：《世界临床药物》2008年第4期249-251,253,共4页World Clinical Drug

摘　　要：目的:探讨热性惊厥(FC)对儿童神经系统的损伤。方法:对127例FC患儿的临床资料进行分析并跟踪随访。结果:FC患儿脑电图(EEG)异常1周为78例(61.4%),2周仍有39例(30.7%);头颅CT异常为43例(33.9%)。结论:FC患儿出现不同程度的中枢神经系统近期或远期损伤危险性高,应采取积极措施减少FC的发生和复发。

关 键 词：热性惊厥 脑细胞功能 损伤 脑电图 头颅CT 

分 类 号：R729[医药卫生—儿科]