微热电阻毫秒级瞬时发热的温度场测试  

作　　者：马雷[1] 谢仕聘[1] 刘贵喜[1] 张菊香[1] 

机构地区：[1]西安电子科技大学,西安710071

出　　处：《电子计算机与外部设备》1997年第5期9-12,共4页

基　　金：科工委预研基金

摘　　要：阐述采用瑞典AGA780红外热像仪及其图像处理系统对热印头热电阻温度场的测试方法。AGA80一般仅用于测试体积较大、温度变化较缓慢的物体的温度场。本文提出引出其触发脉冲同步控制热电阻发热、用多次支点驱动、重复采集及叠加拼合的方法解决了高速瞬变温度场的测试课题，拓宽了此类仪器的应用范围。

关 键 词：热印头 热电阻 温度场测试 输出设备 热印字机 

分 类 号：TP334.806[自动化与计算机技术—计算机系统结构]