计量光栅测量技术研究  

作　　者：刘广黔 

机构地区：[1]贵阳新豪光电有限公司技术开发部

出　　处：《广东科技》2008年第12期190-191,共2页Guangdong Science & Technology

摘　　要：计量光栅形成的莫尔条纹对位移的光学放大作用,在位移精确测量领域有很高的工程价值。光栅线位移传感器得到很大发展,成为该领域关键技术。

关 键 词：计量光栅 莫尔条纹 光学放大 光栅线位移传感器 

分 类 号：TP274[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]