测试电子设备抗电磁干扰性能的国际标准  

出　　处：《LSI制造与测试》1997年第4期30-30,27,共2页

关 键 词：电子设备 抗电磁干扰 测试 国际标准 

分 类 号：TN06－65[电子电信—物理电子学]