硅基薄膜光电性能测试技术——电导温度曲线和光电导衰退的测试  

作　　者：孔光临[1] 郝会颖[2] 彭文博[1] 刘石勇[1] 张长沙[1] 石明吉[1] 曾湘波[1] 廖显伯[1] 

机构地区：[1]中国科学院半导体研究所 [2]中国地质大学

出　　处：《太阳能》2008年第7期27-28,17,共3页Solar Energy

基　　金：国家自然科学基金(60576036);国家重大基础研究973项目(2006CB202604)的资助)

摘　　要：介绍了硅基薄膜电导温度曲线和光电导衰退测试设备和方法,包括测试设备、采集数据的方法及测试的操作规程等。

关 键 词：硅基薄膜 电导 光电导 透射谱 电池量子效率 

分 类 号：TN304[电子电信—物理电子学]