检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:崔俊杰[1] 杨立森[1] 陈宝东[1] 张宝光[1]
机构地区:[1]内蒙古师范大学物理与电子信息学院,呼和浩特010022
出 处:《信息记录材料》2008年第4期23-25,共3页Information Recording Materials
基 金:内蒙古师范大学研究生科研创新基金(YJS07022)资助项目
摘 要:研究了一种制作缺陷光子晶格的新方法,即交叉相位法。利用此方法,成功地在(2+1)维12μm×12μm的光子晶格中构造了微米量级的线缺陷和点缺陷,验证了此方法在构造缺陷光子品格的可行性和优越性。A new method, which fabricate photonic lattice with a defect was studied, and name the method of across phase. Utilizing this method fabricate the linear defect and the punctuate defect which is about the level of micron in two-dimensional 12μm×12μm photonic lattice successfully, which testify that this method is feasible and ascendant in fabricating photonic lattice with a defect.
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