检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:马继先[1] 刘少宇[1] 战秀和[2] 刘连睿[2] 陈太平[2]
机构地区:[1]华北电力科学研究院有限责任公司,北京100045 [2]华北电网有限公司,北京100053
出 处:《高电压技术》2008年第7期1531-1533,共3页High Voltage Engineering
摘 要:为了研究在运行状态下500kV并联电抗器主绝缘、匝间绝缘情况,对500kV并联电抗器现场局部放电试验的可行性进行了分析。由于变频串联谐振技术的广泛应用及低局放大功率变频电源的研制成功,使得500kV并联电抗器现场局部放电试验完全可以进行。通过计算合理配置了试验参数,在设计和工艺上采取了一些措施并构建一套现场测试装置,完全符合现场局放试验要求。应用该套试验装置进行了10台500kV并联电抗器现场局部放电试验。试验结果表明,该套装置可用于500kV并联电抗器局部放电的现场检测,该项技术可以提高500kV并联电抗器的技术管理水平。
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