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检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:朱贵文[1] 沈韩[2] 刘俊刁[3] 阮凯斌[2] 陈敏[2]
机构地区:[1]广东药学院物理与电子学教研室,广东广州510006 [2]中山大学物理科学与工程技术学院,广东广州510275 [3]惠州学院电子科学系,广东惠州516007
出 处:《中山大学学报(自然科学版)》2008年第4期47-50,共4页Acta Scientiarum Naturalium Universitatis Sunyatseni
基 金:广东省自然科学基金博士科研启动基金资助项目(05300580);惠州市科技计划资助项目(2005G49)
摘 要:在0~150℃范围测量了Pb(Zr0.48Ti0.52)O3(PZT)陶瓷薄片的电滞回线和微分电滞回线。发现电滞回线高度在升温过程中出现升高的现象,这与铁电唯象理论相矛盾。为此提出精确测定纯铁电参数的方法,该方法可分离出回线中直流电导,非铁电性电容的影响,从而得到纯铁电效应的信号。实验结果与PZT中准同型相界的存在相吻合。Hysteresis loop and differential hysteresis loop of Pb (Zr0 48Ti0. 52 )03 (PZT) ceramics have been measured in the temperatures from 0 to 150℃. It is found that with the increase of temperatures, the height of hysteresis loop becomes larger, which is conflictive to the phenomenological theory of ferroelectricity. For this reason, a more precise measuring method for obtaining pure ferroelectric effect based on differential hysteresis loop is proposed. Using this method, the influence of DC conductance, non-ferroelectric linear capacitance can be eliminated, and obtain the signal of pure ferroelectric effects. The experimental result is in agreement with the existence of morphotropic phase boundary in PZT.
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