CT平扫颅内等密度病变漏诊分析  

作　　者：孙瑞[1] 张谦[1] 

机构地区：[1]河南省中医院放射科,郑州市450002

出　　处：《医药论坛杂志》2008年第15期96-97,共2页Journal of Medical Forum

摘　　要：目的分析探讨CT平扫颅内等密度病变漏诊的原因,提高医师对此类病变的认识,并试提出避免漏诊的建议。方法采用CT扫描机对颅脑部行普通平扫,增强扫描,个别辅以MR扫描,对所获图像加以观察分析。结果CT平扫时,所选5例患者的颅内病变均为等密度,且当时均发生漏诊,在之后进一步检查时发现。结论颅内病变较易漏诊,漏诊的原因多种多样,大致可归为主观因素和客观因素两类。实践中,我们可以从设备应用人员的角度,通过多方面的主观努力,使客观因素的不良影响降低至最小程度。

关 键 词：CT 等密度病变 漏诊 主客观因素 

分 类 号：R816.1[医药卫生—放射医学]