检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:刘华昌[1]
机构地区:[1]中国工程物理研究院电子工程研究所,四川绵阳621900
出 处:《电测与仪表》2008年第7期41-43,共3页Electrical Measurement & Instrumentation
摘 要:在局部放电测试试验中,环境干扰对局部放电的检测和识别结果产生很大影响。为提高局部放电测试的抗干扰,本文分析了局部放电测试中干扰的来源和种类,从试验电源、耦合电容、检测阻抗、保护电阻的选型到导线的连接,并采取隔离变压、滤波、接独立地等抗干扰设计改进测试系统。经试验,减小了环境中各种干扰,通过放电量、放电次数的对比试验得出Q-N图,也表明抗干扰设计后环境抗干扰有明显改善。In the Partial Discharge (PD) testing, the interference will affect the results of PD test and identification. The sort and source of interference are introduced and analyzed during PD test. We consider the test power, coupling capacitor, test impedance, safe resistance and lead connect, and we add the transformer, filter,isolated ground etc. in anti-interference design. The interferences become smaller by experiment, and Q-N graph is gotten from contrastive experimentation of discharge magnitude and time, which indicates that the antiinterference has significant improvement.
分 类 号:TM835[电气工程—高电压与绝缘技术]
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