光切显微镜示值误差检定方法及误差分析  

作　　者：林伟光 

机构地区：[1]桂林市计量测试研究所

出　　处：《上海计量测试》1997年第1期33-33,共1页Shanghai Measurement and Testing

摘　　要：JJG76—80光切显微镜检定规程指出:用单刻线样板检定光切显微镜示值误差时,先将该样板置于被检仪器工作台上,并调整仪器使样板在视场出现清晰的像,借助仪器手轮移动该样板,使其应用段连同两个记号一起呈现在狭缝清晰像一边,且其刻线方向与狭缝像的长边垂直,转动测微目镜的十字线,使其水平线平行狭缝像的边缘后,与样板刻线表面像重合,并得到第一次读数a1,然后转动测微目镜之水平线与样板刻线底部的像重合,得到第二次读数a_2,所测得深度应为:

关 键 词：光切显微镜 示值误差 检定 误差分析 

分 类 号：TH742.06[机械工程—光学工程]