泰克DDR测试方案满足业内多样需求  

作　　者：俊杰 

出　　处：《电子设计应用》2008年第6期120-120,共1页Electronic Design & Application World

摘　　要：对于SDRAM标准来说，从DDR-266的266MT／S、133MHz、2．5V电压，已经发展到了现在的DDR3-1333的667MT／S、667MHz、1．5V电压。并行总线达到了串行技术的速度，存储器时钟速度达到1GHz。这时，存储系统的验证和调试需要使用高速测量技术及性能更高的测量工具，以获得更好的信号捕获能力、测试精度等。在存储系统的信号路径检定、电路板检验，模拟和电气调试，数字验证和调节等过程中，

关 键 词：测试方案 DDR 泰克 时钟速度 存储系统 信号路径 电气调试 SDRAM 

分 类 号：TP333.8[自动化与计算机技术—计算机系统结构] TN92[自动化与计算机技术—计算机科学与技术]