RFID中间件基准性能测试平台研究与设计  被引量:3

Study and Design of Benchmarking Test Platform for RFID Middleware

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作  者:赵科侠[1] 谭杰[1] 季刚[1] 

机构地区:[1]中国科学院自动化研究所,北京100080

出  处:《微计算机信息》2008年第23期238-240,共3页Control & Automation

基  金:"863"计划项目--RFID系统测试技术(2006AA04A103)

摘  要:RFID中间件作为RFID技术应用的神经中枢,其性能的优劣直接影响整个RFID系统的性能。本文针对RFID中间件的特点,提出了一套衡量RFID中间件基准性能的参数及其测试方法,并介绍了在此基础上的自动化测试平台软件的设计。The performance of RFID middleware is responsible for the whole RFID system. Given the growing importance of RFID middleware, we define parameters for RFID middleware benchmarking and introduce design of benchmarking test platform for RFID middleware based on the study on features of RFID middleware.

关 键 词:RFID 中间件 基准性能 软件测试 

分 类 号:TP39[自动化与计算机技术—计算机应用技术]

 

参考文献:

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引证文献:

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