吉时利4200-SCS半导体特征分析系统升级  

出　　处：《通用机械》2008年第8期78-78,共1页General Machinery

摘　　要：2008年7月29日发布最近针对其屡获殊荣的4200-SCS半导体特征分析系统推出了KTEI（吉时利交互式测试环境）V7．1版。经过此次软件升级之后，KTEI支持更高功率半导体器件的测试。这样，4200-SCS就支持从低到高各种功率水平的器件的特征分析，从而成为市场上最完整的半导体特征分析仪，大大降低了一些复杂测量的难度，

关 键 词：4200-SCS 功率半导体器件 吉时利 特征 系统 测试环境 软件升级 交互式 

分 类 号：F416.672[经济管理—产业经济]