Ⅱ型截尾时指数分布在未来时间区间内失效数的预测  

作　　者：周源泉[1] 李宝盛[2] 

机构地区：[1]北京强度环境研究所,北京100076 [2]北京航天动力研究所,北京100076

出　　处：《质量与可靠性》2008年第4期11-14,共4页Quality and Reliability

摘　　要：对一般的连续分布,给出了单、双样预测未来失效数的条件概率,并对指数分布的Ⅱ型截尾样本,给出了未来时间区间内失效数的Bayes及Fiducial单样、双样预测子和预测区间(PIs)。

关 键 词：指数分布 Ⅱ型截尾样本 单样、双样预测 

分 类 号：TB114.3[理学—概率论与数理统计]