检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]吉林省电子信息产品监督检验研究院,吉林长春130021 [2]黑龙江省哈尔滨市地下建筑设计研究院,黑龙江哈尔滨150001 [3]吉林大学珠海学院,广东珠海519041
出 处:《电子产品可靠性与环境试验》2008年第4期33-35,共3页Electronic Product Reliability and Environmental Testing
摘 要:由于小容量电容器在高低温温度特性试验中的测试精度要求高,所以测试夹具的分布电容和接触电阻的影响会给测试带来很大的困难。对小容量电容器高低溫试验的测试方法和测试中夹具所带来的分布电容和接触电阻进行了探讨、分析与研究,经过反复测试和比对,提出了解决的办法及意见来证明合适的测试方法。In the high a low temperature test of small capacity capacitors, the distribured capacitance and contact resistance of the fixture can be problems due to the high accuracy requirement. In this paper the test methods of hish and low temperature test of small capacity capacitors and the distribured capacitance and contact resistance of the fixture were discussed and analyzed, and some advices were provided for demonstrating the proper test methods.
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