吉时利4200-SCS半导体特征分析系统KTEI V7.1升级版扩展了C-V、I-V和脉冲式I-V特征分析功能  

出　　处：《电子测试》2008年第9期91-91,共1页Electronic Test

摘　　要：新兴测量需求解决方案领导者美国吉时利（Kejthley）仪器公司（NYSE代码：KEI），日前发布最近针对其屡获殊荣的4200-SCS半导体特征分析系统推出了KTEI（吉时利交互式测试环境）V7．1版。经过此次软件升级之后，KTEI支持更高功率半导体器件的测试。

关 键 词：4200-SCS 功率半导体器件 吉时利 特征 系统 升级版 脉冲式 测试环境 

分 类 号：F416.6[经济管理—产业经济]