单片微机系统RAM自检的研究  

A Study on Self－checking of RAMs in a Microcontroller System

作　　者：李力[1] 林凌[2] 

机构地区：[1]江苏理工大学机电学院,210013 [2]天津大学,300072

出　　处：《测控技术》1997年第4期25-26,共2页Measurement & Control Technology

摘　　要：在各种单片微机测控系统中，RAM的正常与否直接关系到该系统的正常工作，RAM的自检可有效地避免RAM不正常工作给系统带来的损害。本文讨论了单片微机应用系统中RAM自检的方法。In all kinds of control systems by a microcontroller , it is very important to make sure of RAMs normality in order to avoid unexpected harms. In this paper we discuss this prob-lem and give some new methods on. elf-checking of RAMs.

关 键 词：RAM 自检 单片机 微机测试 

分 类 号：TP363.806[自动化与计算机技术—计算机系统结构]