检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:刘成[1,2] 曹春芳[1] 劳燕锋[1] 曹萌[1] 吴惠桢[1]
机构地区:[1]中国科学院上海微系统与信息技术研究所,信息功能材料国家重点实验室,上海200050 [2]上海空间电源研究所,上海200233
出 处:《光电子.激光》2008年第9期1188-1191,共4页Journal of Optoelectronics·Laser
基 金:国家“973”计划资助项目(2003CB314903)
摘 要:研究了采用不同溶液制作InP/空气隙的侧向腐蚀工艺,对腐蚀速率、晶向选择性、表面形貌进行了分析;研究了粘附释放工艺;在上述基础上制作完成了InP/空气隙结构,并采用微拉曼光谱来分析其应力分布情况,证实了制作工艺的可靠性。The InP/air-gap structure is fabricated by using lateral etching with different etchants. Etching rates, anisotropy and Surface roughness are also analyzed. And stiction releasing technology is investigated. Then the surface stress profiling of the InP/air-gap structure has been carried out by micro-Rarnan measurements,which proves good reliability of our fabrication process.
分 类 号:TN248.4[电子电信—物理电子学]
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