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作 者:封国强[1] 马英起[1] 韩建伟[1] 张振龙[1] 黄建国[1]
机构地区:[1]中国科学院空间科学与应用研究中心,北京100190
出 处:《Journal of Semiconductors》2008年第9期1729-1733,共5页半导体学报(英文版)
摘 要:The single event transient effects of the operational amplifier LM124J and the optocoupler HCPL 5231 are investigated by a pulsed laser test facility. The relation of transient pulse shape to pulsed laser equivalent LET is tested,the sensitive areas of the SET effects are identified in voltage follower application mode of LM124J, and the mechanism is initially analyzed. The transient amplitude and duration of HCPL5231 at various equivalent LET are examined,and the SET cross-section is measured. The results of our test and heavy ion experimental data coincide closely,indicating that a pulsed laser test facility is a valid tool for single event effect evaluation.利用脉冲激光模拟单粒子效应实验装置研究了通用运算放大器LM124J和光电耦合器HCPL5231的单粒子瞬态脉冲(SET)效应,获得了LM124J工作在电压跟随器模式下的瞬态脉冲波形参数与等效LET值的关系,甄别出该器件SET效应的敏感节点分布.初步分析了SET效应产生的机理.以HCPL5231为例,首次利用脉冲激光测试了光电耦合器的单粒子瞬态脉冲幅度、宽度与等效LET值的关系,并尝试测试了该光电耦合器的SET截面,实验结果与其他作者利用重离子加速器得到的数据符合较好,证实了脉冲激光测试器件单粒子效应的有效性.
关 键 词:pulsed lasers single event transient operational amplifier OPTOCOUPLER
分 类 号:TN78[电子电信—电路与系统]
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