表面微观形貌的分形表征及模拟  

Fractal Chracterization and Simulation of Surface Micro-toPography

作　　者：袁长良[1] 李成贵[2] 刘廷启 

机构地区：[1]太原工业大学,太原市030024 [2]山西省计量调试研究所,太原市030024

出　　处：《中国机械工程》1997年第5期78-80,共3页China Mechanical Engineering

基　　金：国家自然科学基金!59375252

摘　　要：最近的研究表明，机械加工表面的微观形貌具有自仿射性和多尺度性，因而表面形貌的高度分布方差、斜率和曲率的方差不再是唯一的。基于分形几何理论，用Weierstrass－Mandelbrot分形函数来表征表面的微观形貌，所得到的参数是不依赖于测量尺度而变的“固有”参数。根据分形几何建立的表面轮廓的数学模型可对表面轮廓进行模拟，为建立三维表面形貌的评定参数提供理论依据。In recent studies, micro-topogra-phy measurements on a variety of machined sur-faces have shown their topographies are self-affinity and multiscale. This implies that the sta-tistical paramaeters Such as the variances of theheight,the slope and the curvature used for char-acterization are not unique for a particular sur-face. In this paper the Weierstrass-Mandelbrotfractal function is used to introduce a new andsimple method of characterization and simulationof surface micro-topography.

关 键 词：分形几何 表面微观形貌 分形表征 粗糙度 

分 类 号：TG84[金属学及工艺—公差测量技术]