CENDL-3.1硅的宏观检验  

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作  者:吴海成 

出  处:《中国原子能科学研究院年报》2007年第1期170-171,共2页

摘  要:利用日本的中子和γ泄漏谱实验OKTAVIAN对CENDL-3.1版硅同位素的全套中子评价数据进行宏观检验。检验工作比较了基于评价核数据库CENDL-2.1、3.1,ENDF/B—VII.0和JENDL-3.3的中子和γ泄漏谱的计算值和实验测量值。检验分析发现,CENDL-3.1的^28Si的分立能级非弹散射截面可能偏小,(n,p)、(n,α)反应的光子产生数据缺失,14Mev的弹性截面偏大等。这些问题有待进一步修正。

关 键 词:宏观检验 硅同位素 非弹散射截面 核数据库 检验工作 检验分析 分立能级 数据缺失 

分 类 号:O413.3[理学—理论物理] TM621.2[理学—物理]

 

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