应变片式测试仪的设计分析  

The Design Analysis of Strain Chip Pressure Equipment

作　　者：李水利[1] 祖静[1] 李新娥[1] 

机构地区：[1]中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室,山西太原030051

出　　处：《计量与测试技术》2008年第10期17-18,共2页Metrology & Measurement Technique

摘　　要：文章介绍了存储测试系统的发展及其现状,提出了一种小体积测试仪——电阻应变片式测试仪,同时给出了系统工作原理。文章通过对电阻应变片式测试仪弹性体结构设计的分析,介绍了提高测试仪灵敏度与精度的应力集中原则,对比了弹性体两种不同的结构设计,在施加相同压力时产生不同的应力形变的效果,指出了在设计应变片式测试仪的重要器件——弹性体,采用应力集中的重要性。

关 键 词：存储测试 弹性体 应力集中 ANSYS仿真 

分 类 号：TH823[机械工程—仪器科学与技术] TU318[机械工程—精密仪器及机械]