X射线荧光光谱法测定高锰铁矿石中铁  被引量:4

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作  者:叶彬[1] 孙涛[1] 万爱福[1] 王朝斗[1] 张传政[1] 

机构地区:[1]安钢永通球墨铸铁管有限责任公司,安阳455133

出  处:《理化检验(化学分册)》2008年第10期1011-1011,1016,共2页Physical Testing and Chemical Analysis(Part B:Chemical Analysis)

关 键 词:X射线荧光光谱法 铁矿石 高锰 测定 工作曲线 曲线回归 准确度 内标法 

分 类 号:O657.34[理学—分析化学] TD951.1[理学—化学]

 

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