检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:蔡金燕[1,2] 于志坚[3] 韩春辉[2] 封吉平[2]
机构地区:[1]南京理工大学电子工程与光电技术学院,江苏南京210094 [2]军械工程学院光学与电子工程系,河北石家庄050003 [3]北京跟踪与通信技术研究所,北京100094
出 处:《兵工学报》2008年第10期1246-1248,共3页Acta Armamentarii
基 金:国家自然科学基金资助项目(60472009)
摘 要:在无失效的情况下如何对产品进行可靠性分析,对于建立在失效数据分析基础上的现有可靠性理论来说,是一个有一定难度的问题。考虑到设备使用中可以方便地监测其系统的状态参数,本文提出了一种利用设备状态信息进行可靠性分析的方法。通过系统参数漂移量的统计分析,推导出基于参数漂移量的可靠度分析模型,以一个具体电子系统为例,说明了方法的实用性。It is difficult how to analyze the product reliability under the zero-failure data with the current reliability theory founded on failure data analysis. Considering that the systematic state parameters can be monitored conveniently in using the equipment, a method of reliability analysis was proposed by the equipment state information. A probability analysis model based on the parameter drift was deduced by statistical analysis of the systematic parameter drift. Taking a concrete electronic system as an example, the practicability of the method was illustrated.
分 类 号:TP114[自动化与计算机技术—控制理论与控制工程]
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