检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:熊炜[1]
机构地区:[1]上海市计量测试技术研究院
出 处:《上海计量测试》2008年第5期12-14,共3页Shanghai Measurement and Testing
摘 要:随着电磁兼容检测技术的发展和提高,人们正针对不同的电子电器产品寻求更为简单的检测方法。该文介绍采用TEM小室进行辐射骚扰测试和辐射抗扰度测试的方法,使小尺寸的电子电器产品的电磁兼容测试更加便捷。Along with electromagnetic compatibility technology development, people are secuching new testing method for electric and electwnie products. The article presents a way to test the emission and immunity with the TEM cell. It is simpler and more convenient for small sige products.
分 类 号:TB97[一般工业技术—计量学]
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